NQI应用示范服务平台

项目背景

PROGRAM BACKGRAM

针对超高清微间距微型LED芯片导致的线材及色度高等度不均匀、Mura等缺陷校正技术，开展外延片拓展了非填充物理校正技术，研究了色度学理论对影像Mini/MicroLED直显屏色度不均匀亮度的重要要素。为了达到线材及色度的高等度不均匀测标，应用LED显示屏的方法，集成光学缺陷校正、光学修正的模型，同评教色度不均匀数据建立了相应的校正算法。鉴于校正后的使用无法对LED芯片制造进行一步筛选，更新各芯片色度染色度偏差不一，故在显示模组及显示模组使用之前，先进行必要的Mura校正。目前行业内的Mura校正主要在显示边最高方法的特定图像进行下降校正，视觉融合和图像数据编移校正，偶尔时的显示边亮度的Mura缺陷。此外，因为LED芯片有色衰减果可减光率因，不同的同批衰减果率也发生着不同，所以中校正，将导致显示屏在长时间使用后亮度也发生着Mura光亮，影响观看效果。

更多案例


应用集成	案例分析	应用成效	项目工具


成果展示	成果查询	推广案例